Bei der Härteprüfung nach Vickers wird eine Kraft gleichmäßig und stoßfrei mit einem Diamant-Eindringkörper auf eine Probe aufgebracht. Der Vickers-Diamant erzeugt einen Eindruck in Form einer Pyramide mit quadratischer Grundfläche, mit einer Eindringtiefe von ca. 1/7 der Länge der Diagonalen. Die über den Eindringkörper eingeleitete Kraft wird ca. 10 bis 15 Sekunden aufrechterhalten, anschließend erfolgt eine vollständige Entlastung. Die beiden Eindruckdiagonalen werden vermessen und dann gemittelt. Die Vickers-Härte (HV) wird anhand einer Formel berechnet.

Technische Spezifikationen

• Hersteller: KB Prüftechnik GmbH
• Max. Prüflingsgewicht: 120kg
• Ausladung: 170 mm
• Prüfraumhöhe ohne Kreuztisch: 245 mm
• Prüfraumhöhe mit Kreuztisch: 170 mm
• Akku LED Beleuchtung > 10 Jahre
• Vergrößerung Zoom: 1:7 in 10 Schritten
• Auflösung Z-Achse: 0,005 µm
• Gewicht ohne Kreuztisch: 61kg
• Gewicht mit Kreuztisch: 71kg
• Kreuztisch Verfahrweg: 180x160 mm

Anwendungen

• Schnelles und präzises Messen einzelner Eindrücke mithilfe von Autofokus und automatischer Auswertung
• Messungen im Lastbereich zwischen Makro, Kleinlast oder Mikrohärte 0,005kg – 62,5kg 
• Härtemapping und Verläufe an großen Proben und Werkstücken, mithilfe des automatisierten Kreuztischs und der Übersichtskamera

Technische Spezifikationen

• Firma: TESCAN GmbH
• Modell: MIRA3

Vergrößerungen von 2x bis 1.000.000x

• Die Auswahl an verschiedenen bildgebenden Detektoren ermöglicht eine hochauflösende Charakterisierung der Mikrostruktur
• Hierbei können Detektoren in den Kontrastarten Sekundärelektronen (SE) oder Rückstreuelektronen (engl. Backscatterelectron BSE) genutzt werden.
• Durch spezielle Rastertechniken sind Panoramaaufnahmen mit geringen Vergrößerungen und hoher Tiefenschärfe bis hin zu höchstauflösenden Untersuchungen der Mikrostruktur im nm-Bereich möglich
• Zusätzlich können hochauflösende Übersichtsaufnahmen durch eine „Tischrasterung“ aufgenommen werden, bei der der Probentisch automatisiert verfährt und viele Einzelbilder bei höchster Vergrößerung zu einem Bild zusammenführt.

Feldemmisionskathode

• Für höchstauflösende Rasterelektronenstrahlmikroskopie mit einer Auflösung im sub-µm Bereich, kombiniert mit zuverlässiger chemischen und kristallographischen Elektronenstrahlmikroanalyse mittels EDX, WDX oder EBSD wird eine moderne Feldemmisionskathode (engl. Field Emission Gun Fe) genutzt
• Beschleunigungsspannung Ua = 200 V – 30 kV
• Strahlstrom IB = 2 pA – 200 nA
• Vakuum p = < 9x10-3 Pa

Hochstrommodus

• Die Feldemmisionskathode kann im Hochstrommodus betrieben werden und dabei einen Strahlstrom erreichen, der die Größenordnung von modernen Mikrosonden erreicht
• Hoher Strahlstrom von bis zu 200 nA
• Dies ermöglicht die Kombination der Vorteile eines hochauflösenden REM und einer hochsensitiven Mikrosonde mit rauscharmer und zuverlässiger Elektronenstrahlmikroanalytik bei gleichzeitig für die Feldemmisionskathode typischen hoher Auflösung und geringen Strahldurchmessern

Große Probenkammer GM 340x320x310mm

• Hochauflösende Rasterelektronenmikroskopie an kleinsten Strukturen bis hin zu größeren Bauteilen, Demonstratoren oder Schadenfällen

Integrierter Plasmareiniger und Flüssigstickstoff-gekühlte (-196 C°) Kühlfalle

• In-situ Plasmareinigung der Proben und Probenkammer
• Minimierung von Kohlenstoffkontamination und weiteren atmosphärischen Kontaminationen 

Anwendungen

• Schnelles und präzises Messen einzelner Eindrücke mithilfe von Autofokus und automatischer Auswertung.  
• Messungen im Lastbereich zwischen Makro, Kleinlast oder Mikrohärte 0,005kg – 62,5kg 
• Härtemapping und Verläufe an großen Proben und Werkstücken, mithilfe des automatisierten Kreuztischs und der Übersichtskamera.

Die Anschaffung wurde gefördert durch das Bundesministerium für Bildung und Forschung (BMBF).

Dieses Auflichtmikroskop wird genutzt, um Gefügeanalysen, Schliffkontrollen oder Reinheitsgradbeurteilungen durchzuführen und zu dokumentieren. Die Kalibration einer Kamera und die unterschiedlich einstellbaren Vergrößerungsoptionen geben dem Bediener die Möglichkeit messgenaue Maßbalken in die Aufnahmen einzufügen. Das Gerät ist zusätzlich mit einem Polarisationsfilter ausgestattet, um etwaige Unebenheiten auf der spiegelnden Probenoberfläche erkennen zu können. Diese lassen sich anschließend durch den in der Software integrierten Multifokus ausgleichen.

Technische Daten

• Vergrößerungsstufen: 50x / 100x / 200x / 500x / 1000x
• Vergrößerungsverstärkung des Tubus: 1x / 1,25x /1,5x /2x
• Kamera: 4,9MP
• DIC Kontrast einstellbar
• Funktion für Multifokus integriert

Anwendung

• Begutachtung von Schliffen
• Erstellen von Probenaufnahmen
• Größenermittlung einzelner Probenbestandteile
• Überprüfung des Präparationsprozesses
• Ausgleich bei schlechter Planparallelität

Das Leica M80 Stereomikroskop dient zur Begutachtung und Dokumentation größerer und unpräparierter Proben. Mit auswechselbaren Objektiven sowie frei verstellbarem Zoom und Belichtungsstufen bietet das Mikroskop einen großen Spielraum für Makro- und Mikroaufnahmen. Durch die Kalibration einer Kamera auf die unterschiedlich einstellbaren Vergrößerungsstufen besteht die Möglichkeit einen messgenauen Maßbalken in die Aufnahmen einzubringen.

Technische Daten

• Vergrößerungsstufen: 3,8x-70x in 20 Stufen verstellbar
• Kamera: 4,9MP
• Lichtintensität stufenweise verstellbar
• Lichtmodul für unterschiedliche Beleuchtungswinkel vorhanden

Anwendung

• Betrachtung von größeren Bauteilen und Schadstellen
• Begutachtung größerer Schliffe
• Erstellen von Makrobildern
• Bemaßung von Bauteilbestandteilen

An dem DM6 M Lichtmikroskop von Leica können Proben mit einer extrem hohen Auflösung untersucht und abgelichtet werden. Die bei einer Aufnahme eingestellten Parameter können gespeichert und für spätere Aufnahmen wieder geladen werden. Zusätzlich zu den Funktionen der anderen Lichtmikroskope kann das Leica einen größeren Probenbereich abrastern und automatisch zusammenstitchten, um so ein hochauflösendes Übersichtsbild zu generieren. Durch die volle Automatisierung der Bedienungsparameter kann das Mikroskop auch per Remotesteuerung kontrolliert und somit Proben über eine Liveübertragung angesehen werden.

Technische Daten

• Vergrößerungsstufen: 25x / 50x / 100x / 200x / 500x / 1000x
• Bedienung: Analog und Digital
• Kamera: 4,9MP
• Remotefähig
• Panoramabilder erstellen möglich
• Ausgabe von Parameterhistogramm
• Funktion für Multifokus integriert
• DIC Kontrast einstellbar

Anwendung

• Begutachtung von Schliffen
• Erstellen von Probenaufnahmen
• Größenermittlung einzelner Probenbestandteile
• Überprüfung des Präparationsprozesses
• Ausgleich bei schlechter Planparallelität
• Reproduzieren von Bildparametern
• Livezuschaltung durch Remotefunktion

Die Isomet 5000 ermöglicht das millimetergenaue Trennen filigraner Proben. Hierbei können für unterschiedliche Zähigkeiten diverse Feintrennscheiben und Trennparameter gewählt werden. Sowohl der durch ein Pumpensystem gewährleistete konstante Fluss von Kühlwasser als auch die automatische Anpassung der Vorschubgeschwindigkeit bei zu hohen Festigkeiten sorgen für einen möglichst geringen Einfluss auf das Probenmaterial.

Technische Daten

• Scheibendrehzahl: 1000-5000 U/min
• Kühlmittelsysteme: Integriertes Umlaufkühlsystem
• Feintrennscheiben: Korund / CBN / Diamant
• Trennscheiben Ø: 150mm
• Vorschubgeschwindigkeit: 1,2-12,5 mm/min
• Automatische Anpassung der Vorschubgeschwindigkeit durch Smart Cut

Anwendung

• Präzisionstrennen an feinem Probenmaterial
• Trennen von weichen, bis sehr harten Werkstoffen

An den Härteprüfern von Wolpert können sowohl die Vickers als auch die Brinell Härte bestimmt werden. Hierbei dringt der Indenter, bestehend aus Hartmetallkugel oder Diamantpyramide, stoßfrei in die Probenoberfläche einer planparallelen Probenoberfläche ein und erzeugt im Material einen Eindruck. Der Eindruck wird anschließend auf eine am Gerät integrierte Mattscheibe projiziert und kann von dort mithilfe einer beiliegenden Skala vermessen und ausgewertet werden. Der Brinell-Indenter eignet sich besonders gut für weichere und der Vickers-Indenter für härtere Materialien.

Technische Daten

• Messverfahren: Vickers und Brinell
• Prüfkraft (Vickers): 1 / 5 / 10 / 30
• Beanspruchungsgrad (Brinell): 1 / 2,5 / 5 / 10 / 15 / 30

Anwendung

• Härtemessungen im Makro- und Mikrobereich
• Härtemessungen an weichen und härten Materialien

Um eine planparallele und kratzerfreie Probenoberfläche gewährleisten zu können, werden zwei halbautomatische Poliermaschinen des Typs Phoenix 4000 eingesetzt. Mittels eines auswechselbaren Probenhalters können bis zu 6 eingebettete Proben gleichzeitig geschliffen und poliert werden. Beim Schleif- und Poliervorgang können Parameter wie Anpressdruck, Rotationsrichtung, Rotationsgeschwindigkeit und Polierdauer an das eigene Probenmaterial angepasst werden.

Technische Daten

• Max. Umdrehungsgeschwindigkeit: 600 rpm
• Max. Anpressdruck: 5 bar
• Druckoptionen: zentral oder einzelgesteuert
• Probenhalter: Ø 20 mm / Ø 30 mm / Ø 40 mm / Ø 50 mm

Anwendung

• Planschleifen von Probenmaterial
• Schleifen und polieren von Schliffen

An den Opal 460 Warmeinbettpressen können in kurzer Zeit bis zu zwei Einbettungen gleichzeitig erfolgen. Die einzubettende Probe wird hierbei auf einen der Stempel gelegt und während des Prozesses in ein beigefügtes Kunstoffgranulat eingefasst. Parameter wie Druck, Haltedauer oder Temperatur können frei an die gewünschte Einbettmasse angepasst werden. Die Einbettung vereinfacht die Handhabung von komplexeren Probengeometrien für die weitere Präparation hierbei deutlich. Durch die Nutzung eines leitenden Einbettmittels können die Proben im Anschluss an die Präparation problemlos am Rasterelektronenmikroskop untersucht werden.

Technische Daten

• Pressform: Ø 50 mm / Ø 60 mm / Ø 70 mm
• Verschlusssystem: Schiebeverschluss
• Temperaturbereich: 20-200°C
• Haltezeit: einstellbar
• Kühlzeit: einstellbar
• Max. Druck in der Pressform je nach Pressformgröße: 310 bar
• Heizleistung: 4x 630 W

Anwendung

• Einbettung von Probenmaterial
• Vorbereitung für REM Ansicht